发明名称 在一个别产品之批次化制造程序上评估一量测程序及归纳量测的不确定性之方法及系统
摘要 对于批次化执行的个别产品生产程序的测量程序上作评估,包含评估一附属于该程序的归纳量测不确定性,包含下列的步骤:周期性的从批次中选出产品项目;重复地存取所选出的每个项目,而在每个存取中对此项目执行一预定的参数测量,该参数系关于每个项目的一或多个选定参数,俾从相关的参数测量计算一项目分布值;根据与相同参数有关之一群该等项目的第一静态化的项目分布值产生关于第一确信水准之批次分布值;根据一群批次上的第二静态化批次分布值以执行统计程序控制。
申请公布号 TW364956 申请公布日期 1999.07.21
申请号 TW086106431 申请日期 1997.05.14
申请人 皇家飞利浦电子股份有限公司 发明人 吉拉杜斯琼安尼斯柯尼里斯凡巴克斯姆
分类号 G05B19/00;G06F9/00 主分类号 G05B19/00
代理机构 代理人 陈长文 台北巿敦化北路二○一号七楼
主权项 1.一种评估个别产品之批次化执行的生产程序上 的量测程 序之方法,包含评估附属于该程序的归纳量测的不 确定性 ,包含下列之步骤:周期性的从批次中选出产品项 目;重 复地存取所选出的每个项目,而在每个存取中对此 项目执 行一预定的参数测量,该参数系有关于每个项目的 一或多 个选定参数,俾从相关的参数测量计算一项目分布 値;根 据与相同参数有关之一群该等项目的第一静态化 的项目分 布値产生关于第一确信水准之批次分布値;根据一 群批次 上的第二静态化批次分布値以执行统计程序控制 。2.如申请专利范围第1项之方法,其中该第一静态 化在一 群该等项目的起始静态化项目分布値之后,相关于 以第二 确信水准产生子批次分布値的该等批次的子批次 中相同的 参数。3.如申请专利范围第2项之方法,其中该子批 次为一积体 电路生产晶片。4.如申请专利范围第1.2或3项之方 法,其中该项目被机 械式的释放并针对相同参数的测量对之间做评估 。5.如申请专利范围第1.2或3项之方法,其中每一项 目的 参数被实际测量两次。6.如申请专利范围第1.2或3 项之方法,其中每个参数的 测量伴随着关注产品项目的通过-失败决定。7.一 种评估对于批次化执行的个别产品生产程序的测 量程 序之系统,其包含评估一附属于该程序的归纳量测 不确定 性,该系统包含:输入装置,以周期性的从批次中选 出产 品项目;存取及测量装置,来重复地存取所选定的 每个项 目,在每个这样的存取中对此项目执行一预定的参 数测量 ;计算装置,以每个项目的相关一或多个选定参数, 从相 关的参数测量计算一项目分布値;第一静态化装置 ,由该 计算装置馈送静态化一群相同的参数之该等项目 之项目分 布値,在这样的批次中产生一与第一确信水准相关 批次分 布値;第二静态化装置,由该第一静态化装置馈送 以静态 化在一群批次上的批次分布値;统计程序控制装置 ,由该 第二静态化装置馈送,以在静态化的批次分布値基 础上执 行统计处理控制。图式简单说明:第一图,根据本 发明的 装置设定;第二图,测量参数値;第三图,测量的重复 値 ;第四图,程序的产品及资讯流程;第五图,测量参数 Pi 的信号流;第六图,测试程序的监视Pi;及第七图,测 量 的阶层结构。
地址 荷兰