| 发明名称 | 被扫描物物理参数的检测方法与装置 | ||
| 摘要 | 一种被扫描物物理参数的检测方法,其用以检测一被扫描物的一物理参数,其包括以下步骤:(a)提供一初始光学信号;(b)接收该初始光学信号,且对应于该初始光学信号产生一初始检测信号;(c)接收该初始光学信号,且对应于该被扫描物的该物理参数,以产生一复合检测信号;以及(d)将该初始检测信号与该复合检测信号进行运算处理,得知该被扫描物的该物理参数。本发明还涉及被扫描物物理参数的检测装置。 | ||
| 申请公布号 | CN1222710A | 申请公布日期 | 1999.07.14 |
| 申请号 | CN98103924.3 | 申请日期 | 1998.01.06 |
| 申请人 | 鸿友科技股份有限公司 | 发明人 | 李凤生 |
| 分类号 | G06K9/20 | 主分类号 | G06K9/20 |
| 代理机构 | 柳沈知识产权律师事务所 | 代理人 | 杨梧 |
| 主权项 | 1．一种被扫描物物理参数的检测方法，其用以检测一被扫描物的一物理参数，其中该检测方法包括以下步骤：(a)提供一初始光学信号；(b)接收该初始光学信号，且对应于该初始光学信号产生一初始检测信号；(c)接收该初始光学信号，且对应于该被扫描物的该物理参数，以产生一复合检测信号；以及(d)将该初始检测信号与该复合检测信号进行运算处理，得知该被扫描物的该物理参数。 | ||
| 地址 | 台湾省新竹科学工业园区 | ||