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经营范围
发明名称
BIAS TESTING FURNACE FOR SEMICONDUCTOR DEVICE
摘要
申请公布号
JPH11160392(A)
申请公布日期
1999.06.18
申请号
JP19970343976
申请日期
1997.11.28
申请人
NEC CORP
发明人
YOSHIKAWA YUKIHIRO
分类号
G01R31/26;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/26
主分类号
G01R31/26
代理机构
代理人
主权项
地址
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