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发明名称 SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT WITH A TEST CIRCUIT FOR INPUT BUFFER THRESHOLD
摘要
申请公布号 KR100190215(B1) 申请公布日期 1999.06.01
申请号 KR19950023742 申请日期 1995.07.28
申请人 NIPPON ELECTRIC K.K. 发明人 KUBOTA, SHUJI
分类号 G01R31/26;G01R31/28;G01R31/30;G01R31/317;H01L21/8238;H01L27/092;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
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