发明名称 |
PROCEDE DE FABRICATION D'UNE STRUCTURE EN SILICIUM A GRAINS HEMISPHERIQUES |
摘要 |
<P>Dans un procédé pour fabriquer une structure en silicium à grains hémisphériques (28) à titre d'électrode inférieure d'un condensateur dans un circuit intégré, on forme une couche de silicium polycristallin (26) à titre de germe pour la nucléation, au lieu d'une couche de silicium amorphe. On forme sélectivement la structure en silicium à grains hémisphériques (28), en utilisant le dépôt chimique en phase vapeur dans une condition telle que cette structure se forme de façon préférentielle sur le silicium polycristallin, plutôt que sur une couche d'oxyde de silicium (24) recouvrant un substrat (20).</P> |
申请公布号 |
FR2770027(A1) |
申请公布日期 |
1999.04.23 |
申请号 |
FR19980000605 |
申请日期 |
1998.01.21 |
申请人 |
UNITED MICROELECTRONICS CORPORATION |
发明人 |
YEW TRI RUNG;LUR WATER;SUN SHIH WEI;SHIH HSUEH HAO |
分类号 |
C23C16/04;C23C16/24;H01L21/02;H01L21/205;H01L21/285;H01L21/8242;H01L27/108 |
主分类号 |
C23C16/04 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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