发明名称 SEMICONDUCTOR-TESTING DEVICE
摘要
申请公布号 JPH1164450(A) 申请公布日期 1999.03.05
申请号 JP19970217249 申请日期 1997.08.12
申请人 ADVANTEST CORP 发明人 SASAKI HISAMI
分类号 G01R31/26;G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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