发明名称 CHAMBER CONDITION MEASURING APPARATUS FOR DRY-ETCHING EQUIPMENT
摘要
申请公布号 KR0127362(Y1) 申请公布日期 1998.12.01
申请号 KR19920025935U 申请日期 1992.12.21
申请人 LG SEMICONDUCTOR CO.,LTD 发明人 KIM, JAE-DAL
分类号 H01L21/302;(IPC1-7):H01L21/302 主分类号 H01L21/302
代理机构 代理人
主权项
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