发明名称 多晶硅电阻及其制造方法
摘要 一种电阻,具有多晶硅的电阻本体(11)和设置在电阻本体(11)上和/或电阻本体(11)内的电端子(23,15),所以电阻部分(13)形成在端子之间,并产生有用的电阻值。电阻本体的材料用受主类型和施主类型的掺杂剂掺杂。为了相当大程度地阻断晶界处的电荷载流子陷阱,并由此使电阻具有良好的稳定性,当在制造期间暴露到不同的物质时,用高浓度的施主掺杂,如果材料中仅存有施主原子基本不存在受主原子时,可认为材料近乎被重掺杂。特别是提供到电阻本体中的施主原子的浓度至少为3·10<SUP>19</SUP>cm<SUP>-3</SUP>,材料具有1000A的平均晶粒尺寸,使用磷作为施主类型的掺杂剂。
申请公布号 CN1196136A 申请公布日期 1998.10.14
申请号 CN96196923.7 申请日期 1996.09.13
申请人 艾利森电话股份有限公司 发明人 U·史密斯;M·赖堡;H·汉森
分类号 H01C7/00 主分类号 H01C7/00
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 邹光新;王岳
主权项 1.一种电阻,包括多晶硅的电阻本体和提供到和/或电阻本体内的电端子,具有位于端子之间产生电阻值的电阻部分,用受主类型和施主类型的掺杂剂掺杂电阻部分的材料,用于产生电阻的所需电阻值,其特征在于,电阻本体中的施主类型的掺杂剂浓度很大,以致它/它们很大程度地阻断多晶材料中晶界处的电荷载流子陷阱,特别是当它暴露到可键合到材料中的不饱和键的物质中时,多晶材料具有良好的稳定性,即它的电阻率变化程度很小。
地址 瑞典斯德哥尔摩