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发明名称 Verfahren und Einrichtung zum Vergleichen von Mustern
摘要
申请公布号 DE69127835(D1) 申请公布日期 1997.11.13
申请号 DE19916027835 申请日期 1991.01.11
申请人 FUTEC INC., TAKAMATSU, KAGAWA, JP 发明人 NISHIO, MASAMI, AYAUTA-GUN, KAGAWA-KEN, JP
分类号 G06T7/60;G06K9/64;G06T7/00;(IPC1-7):G06T7/00;G06K9/00;G01N21/88 主分类号 G06T7/60
代理机构 代理人
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