发明名称 METODO DE ENSAYO DE CIRCUITOS.
摘要 LA INVENCION ACTUAL SE REFIERE AL METODO PARA PROBAR CIRCUITOS DIGITALES O ANALOGICOS. SI SE DETECTA UN FALLO DESPUES DE QUE SE HAYA APLICADO UN ESTIMULO, Y SE REALIZAN MEDICIONES DE PRUEBA EN ALGUNOS NUDOS DE CIRCUITOS , SE TOMARAN MEDIDAS PARA LOCALIZAR LOS COMPONENTES DEL CIRCUITO DEFECTUOSOS. SE SELECCIONA AL MENOS OTRO NUDO POSTERIOR, PARA MEDIRLO EN BASE A LOS NIVELES DE INFORMACION QUE DICHOS NUDOS PODRAN PROPORCIONAR. MEDICIONES POSTERIORES AYUDAN A LOCALIZACIONES DEFECTUOSAS. LOS NIVELES DE INFORMACION DE LOS CIRCUITOS ANALOGICOS SE DETERMINAN CALCULANDO LOS FACTORES DE DISCRIMINACION QUE DEPENDEN DE GAMAS DE TENSION POSIBLES EN NUDOS DE CIRCUITOS INMESURABLES SI SE CONSIDERA A VARIOS COMPONENTES COMO DEFECTUOSOS. LA INFORMACION GANADA MEDIANTE LA MEDIDA EN UN NUDO POSTERIOR SE UTILIZA PARA REDUCIR LAS GAMAS DE TENSION A FIN DE AYUDAR A SELECCIONAR OTRO NUDO PARA MEDIR.
申请公布号 ES2104672(T3) 申请公布日期 1997.10.16
申请号 ES19910307952T 申请日期 1991.08.30
申请人 SCHLUMBERGER TECHNOLOGIES LIMITED 发明人 MCKEON, ALICE;ROGEL-FAVILA, BENJAMIN;WAKELING, ANTONY
分类号 G01R31/28;G01R31/3167;G06F11/26;G06F17/50;(IPC1-7):G01R31/316;G01R31/317 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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