发明名称 金属氧化物半导体偏压电路
摘要 本案提供一种对电源供应电压适应范围宽且可适度补偿因制程影响而偏移之输出电流之金属氧化物半导体偏压电路。此偏压电路包括一第一电阻电连接于一欲被偏压金属氧化物半导体之闸极(gate),用以建立该欲被偏压金属氧化物半导体之源极(source)及闸极间之电压,俾该欲被偏压金属氧化物半导体之输出电流与该偏压电路之电源供应电压成正比例之近似直线性关系
申请公布号 TW290205 申请公布日期 1996.11.01
申请号 TW082208494 申请日期 1993.06.18
申请人 合泰半导体股份有限公司 发明人 谢进益
分类号 H03K17/10;H03K17/22 主分类号 H03K17/10
代理机构 代理人 蔡清福 台北巿忠孝东路一段一七六号九楼
主权项 2. 如申请专利范围第一项所述之金属氧化物半导 体偏压 电路,其中该欲被偏压之金属氧化物半导体之汲极 与该接 地点间接一负载。3. 如申请专利范围第一项所述 之金属氧化物半导体偏压 电路,其中该第一电阻系一定値电阻。4. 如申请专 利范围第一项所述之金属氧化物半导体偏压 电路,其中该偏压建立装置包括一电阻。5. 如申请 专利范围第四项所述之金属氧化物半导体偏压 电路,其中该电阻系一可变电阻,用以调整该直线 性关系 之斜率。6. 如申请专利范围第四项所述之金属氧 化物半导体偏压 电路,其中该偏压建立装置更包括三个电连接之金 属氧化 物半导体以建立该被偏压金属氧化物半导体之源 极及闸极 间之部分电压。7. 如申请专利范围第一项所述之 金属氧化物半导体偏压 电路,更可适度补偿因制程影响而偏移之欲被偏压 金属氧 化物半导体之输出电流。8. 如申请专利范围第一 项所述之金属氧化物半导体偏压 电路,其中该第一电阻系电连接于该偏压装置及一 接地点 间。图示简单说明: 第一图系习用之D/A偏压电路。 第二图系改良偏压电路。 第三图系实际应用电路。 第四图系习用偏压电路及金属氧化物半导体偏压 电路使用
地址 新竹巿科学工业园区研新二路五号