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发明名称
SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT DEVICE AND TESTING METHOD
摘要
申请公布号
JPH08220196(A)
申请公布日期
1996.08.30
申请号
JP19950053274
申请日期
1995.02.17
申请人
NEC CORP
发明人
KACHI YOSHIO
分类号
G01R31/28;G01R31/3185;H01L21/66;H01L21/822;H01L27/04;H03K19/00;H03K19/0175;(IPC1-7):G01R31/318;H03K19/017
主分类号
G01R31/28
代理机构
代理人
主权项
地址
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