发明名称 SEQUENTIAL-CIRCUIT TESTING METHOD
摘要
申请公布号 JPH07325126(A) 申请公布日期 1995.12.12
申请号 JP19950155534 申请日期 1995.05.31
申请人 AMERICAN TELEPH & TELEGR CO <ATT> 发明人 BISHIYUWANI DEO AGURAWARU;TAPAN JIYOCHI CHIYAKURABOOTEI
分类号 G01R31/28;G01R31/3183;G11C29/10;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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