| 发明名称 |
INTERFACE WIRING MECHANISM FOR IC TESTER |
| 摘要 |
|
| 申请公布号 |
JPH07301664(A) |
申请公布日期 |
1995.11.14 |
| 申请号 |
JP19940119612 |
申请日期 |
1994.05.09 |
| 申请人 |
HITACHI ELECTRON ENG CO LTD |
发明人 |
YOSHIHARA YASUHITO |
| 分类号 |
G01R1/073;G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 |
主分类号 |
G01R1/073 |
| 代理机构 |
|
代理人 |
|
| 主权项 |
|
| 地址 |
|
