| 发明名称 |
DYNAMIC CURRENT SHUT-OFF TEST METHOD |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH07262842(A) |
申请公布日期 |
1995.10.13 |
| 申请号 |
JP19940053897 |
申请日期 |
1994.03.24 |
| 申请人 |
NGK INSULATORS LTD |
发明人 |
NAKAYAMA TETSUYA;FUJITA HIROSHI |
| 分类号 |
G01R31/00;H01B17/00;H01T4/00;(IPC1-7):H01B17/00 |
主分类号 |
G01R31/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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