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发明名称 INVERTED SIDE DETECTING METHOD BY X-Y TYPE IN-CIRCUIT TESTER OF IC
摘要
申请公布号 JPH07244107(A) 申请公布日期 1995.09.19
申请号 JP19940060118 申请日期 1994.03.03
申请人 HIOKI EE CORP 发明人 MIYASAKA TAKAO
分类号 G01R31/02;G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/02 主分类号 G01R31/02
代理机构 代理人
主权项
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