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发明名称 Verfahren und Vorrichtung zum Temperieren und Prüfen von elektronischen, elektromechanischen und mechanischen Baugruppen
摘要
申请公布号 DE4338445(A1) 申请公布日期 1995.05.11
申请号 DE19934338445 申请日期 1993.11.10
申请人 HERAEUS-VOETSCH GMBH, 63450 HANAU, DE;SIEMENS AG, 80333 MUENCHEN, DE 发明人 RASP, RICHARD ALEXANDER, 72336 BALINGEN, DE;JOHANNSEN, BERND, 93057 REGENSBURG, DE
分类号 G01R31/28;H05K13/00;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 G01R31/28
代理机构 代理人
主权项
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