发明名称 TECNICA DE FABRICACION DE UN SISTEMA EXPERTO PARA EL DIAGNOSTICO DE FALLOS EN SISTEMAS.
摘要 EL INVENTO SE REFIERE A UN TECNICA PARA FUNCIONAR EN UN ORDENADOR Y DESARROLLAR UNA BASE DE CONOCIMIENTO (10) PARA LUEGO OFRECER SISTEMAS DE DIAGNOSTICO DE FALLOS MUY RAPIDOS Y DE BUEN COSTE. LA PRESENTE TECNICA UTILIZA UNA JERARQUIA EFECTIVA DE REGLAS QUE EN UN PRIMER NIVEL SON REGLAS QUE PERMITEN QUE LA DISPOSICION DEL SISTEMA SOMETIDO A PRUEBA SE DESCOMPONGA EN UNA JERARQUIA DE SUBSISTEMAS PARALELOS Y SECUENCIALES. EN UN SEGUNDO NIVEL, SON REGLAS QUE GENERAN REGLAS DE COMPROBACION EFICIENTE PARA CADA SUBSISTEMA. LAS REGLAS DE SEGUNDO NIVEL SE PUEDEN COMPARAR CON UNA FUNCION DE EVALUACION DE NODOS EN UN PROBLEMA TIPICO DE BUSQUEDA DE UN GRAFICO PARA SELECCIONAR EL MEJOR NODO PARA EXPANSION DE UNA LISTA ACTUAL DE NODOS CANDIDATOS, DE MODO QUE EL MEJOR TRAYECTO A LA CORRECTA DIAGNOSIS DEL SISTEMA SE ENCUENTRA EN EL PERIODO DE TIEMPO MAS BREVE UTILIZANDO UN MINIMO DE ENTRADA DE USUARIO. DOS REGLAS HEURISTICAS SE APLICAN PARA ACELERAR EL PROCESO DE SELECCION DEL NODO COMO MEJOR CANDIDATO PARALA EXPANSION. LA JERARQUIA DE REGLAS RESULTANTES PERMITE QUE SE GENEREN LA BASE DE CONOCIMIENTO DE COSTE EFICAZ Y EL PROCEDIMIENTO DE ARBOL DE PRUEBA DE SALIDA RESULTANTE PARA OBTENER UN SISTEMA DE DIAGNOSTICO DE FALLOS QUE SE APLICA PARA COMPROBAR UN SISTEMA O DISPOSITIVO ASOCIADO.
申请公布号 ES2069013(T3) 申请公布日期 1995.05.01
申请号 ES19900307845T 申请日期 1990.07.18
申请人 AT&T CORP. 发明人 LIROV, YUVAL V.;YUE, ON-CHING
分类号 G06F11/22;G06F9/44;G06F11/25;(IPC1-7):G06F11/22 主分类号 G06F11/22
代理机构 代理人
主权项
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