发明名称 FOREIGN MATTER INSPECTING DEVICE AND FOREIGN MATTER INSPECTING METHOD
摘要
申请公布号 JPH06347414(A) 申请公布日期 1994.12.22
申请号 JP19930137064 申请日期 1993.06.08
申请人 NEC CORP 发明人 KISHI MASAHIKO
分类号 G01N21/88;G01N21/94;G01N21/956;H01L21/66;(IPC1-7):G01N21/88 主分类号 G01N21/88
代理机构 代理人
主权项
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