| 发明名称 |
METHOD FOR DEVELOPING TEST PLAN FOR ANALOG INTEGRATED CIRCUIT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH06317631(A) |
申请公布日期 |
1994.11.15 |
| 申请号 |
JP19940012868 |
申请日期 |
1994.02.04 |
| 申请人 |
TEXAS INSTR INC <TI> |
发明人 |
NAIKUNAWAARE RABUINDORANAATO;JII ENU NANDAKUMAARU;SURINIBUASA AARU KASA |
| 分类号 |
G01R31/26;G01R31/28;G01R31/316;G01R31/3167;G01R31/317;G01R31/3183;H01L21/66;(IPC1-7):G01R31/28 |
主分类号 |
G01R31/26 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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