| 主权项 |
1.一种雷射光扫描装置,包含:一反射器,具有若干 以不 同角度构成之平坦反射面;一装置,用以沿一光径 提供雷 射光至反射器;一装置,用以移动反射器;一装置,设 于 光径上,用高速循环方式侦检雷射光;及一装置,用 以令 移动反射器之装置与侦检雷射光之装置同步,以利 于第一 方向扫描反射之雷射光,同时其中该马达移动该反 射器, 使得该等平坦反射面的连续面能截断该雷射束。2 .根据申请专利范围第1项之雷射光扫描装置,其中 反射 器具有轮之形状,且平坦之反射面位于轮之外侧面 上,其 中移动反射器用之装置包含一联结于反射器之马 达,以利 依其轴线旋转。3.根据申请专利范围第1项之雷射 光扫描装置,其中平坦 之反射面系依一至少 45延伸角度之弧形面而设。 4.根据申请专利范围第1项之雷射光扫描装置,其中 用以 移动反射器之装置系电机式作动器,令反射器往复 移动。5.根据申请专利范围第1项之雷射光扫描装 置,其更包含 一装置,用以在垂直于第一方向之方向扫描反射之 雷射光 。6.根据申请专利范围第5项之雷射光扫描装置,其 中用以 扫描之装置包含:一多边形反射器,具有若干平坦 之反射 侧,其方位可用来以一侧截取反射之雷射光并将之 反射; 及一装置,用以旋转多边形反射器,以利令雷射光 越过截 取雷射光之侧面,藉此在第二方向扫描雷射光。7. 根据申请专利范围第1项之雷射光扫描装置,其中 反射 器系一带体,于其外侧面设有若干分离之反射片段 ,且其 中用以移动反射器之装置包含第一、二啮合于带 体之滑轮 。8.根据申请专利范围第1项之雷射光扫描装置,其 中该若 干平坦面可与另者隔光。9.根据申请专利范围第1 项之雷射光扫描装置,其中用以 偏转之装置包含一光电式晶体。10.根据申请专利 范围第1项之雷射光扫描装置,其更包 含一装置,用以调制雷射光而对应于一外来之资料 讯号。11.一种雷射光扫描装置,包含:一雷射光源; 一多边形 反射器,用以截取雷射光,具有若干由非反射间距 作光学 间隔之平坦反射侧;及一装置,设于雷射光源与反 射器间 之光径上,用以移动雷射光越过反射器,以利持续 横过若 干平坦之反射侧。12.根据申请专利范围第11项之 雷射光扫描装置,其更包 含一设于雷射光与反射器间之装置,用以调制雷射 光对应 于一外来之资料讯号。13.根据申请专利范围第11 项之雷射光扫描装置,其更包 含用以旋转多边形之装置。14.根据申请专利范围 第13项之雷射光扫描装置,其更包 含:一装置,用以侦检多边形之旋转位置;及一装置, 联 结于侦检旋转位置之装置,用以控制该装置以移动 而与多 边形反射器之旋转位置同步。15.根据申请专利范 围第11项之雷射光扫描装置,其中各 平坦反射侧于第一、二方向以不同角度构成。16. 根据申请专利范围第11项之雷射光扫描装置,其中 各 平坦反射侧具有大致相等于雷射光直径之宽度。 17.一种控制雷射光位置之方法,包含步骤如下:备 便一 具有若干平坦侧之反射器,以利由其中一反射侧截 取雷射 光,该反射侧具有垂直于反射面之方向,其并非设 于一平 面上;移动反射器,用以在第一方向移动反射侧;及 移动 雷射光于平行于平坦反射侧之运动方向。18.根据 申请专利范围第17项之控制雷射光位置之方法, 其中光束之移动快于该侧者且朝着运动方向。19. 根据申请专利范围第17项之控制雷射光位置之方 法, 其中光束之移动慢于该侧者且朝着运动方向。20. 根据申请专利范围第17项之控制雷射光位置之方 法, 其中光束之移动等速于该侧者且朝着运动方向,以 利于一 条扫描线期间将光束保持在单一侧上。图1系习知 技术雷 射扫描装置之顶视图。图2系本发明雷射光扫描装 置较佳 实施例之合成顶视/简示图。图 3(a)及图3(b)分别系 放 大及侧面简示图,揭示本发明之反射器用于反射面 之情形 。图 4(a)至 4(c)揭示由本发明雷射光扫描装置可得 之不 同雷射光扫描型态。图 5(a)至图 5(b)揭示由本发明 X- Y 雷射光扫描装置可得之雷射光扫描型态。图6系 一方块 示意图,揭示本发明雷射光扫描装置之电子控制系 统较佳 实施例。图7揭示本发明雷射光扫描装置之变更实 施例。 图8揭示本发明使用各别 X、Y 反射器之 X-Y 雷射光 扫 |
