发明名称 TEST CIRCUIT
摘要
申请公布号 JPH06266325(A) 申请公布日期 1994.09.22
申请号 JP19930056637 申请日期 1993.03.17
申请人 NEC IC MICROCOMPUT SYST LTD 发明人 ASAI MASAO
分类号 G01R31/3183;G01R31/28;G09G5/00;(IPC1-7):G09G5/00 主分类号 G01R31/3183
代理机构 代理人
主权项
地址
您可能感兴趣的专利