| 发明名称 |
CIRCUIT FOR TESTING INTEGRATED CIRCUIT |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
JPH06160488(A) |
申请公布日期 |
1994.06.07 |
| 申请号 |
JP19910090104 |
申请日期 |
1991.04.22 |
| 申请人 |
NEC CORP;NEC TELECOM SYST LTD |
发明人 |
SAITO TSUKASA;OHASHI KIICHIRO |
| 分类号 |
G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 |
主分类号 |
G01R31/28 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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