发明名称 CONNECTION DEVICE FOR TESTING DIFFERENT TERMINAL SEMICONDUCTOR ELEMENTS
摘要
申请公布号 JPH0694788(A) 申请公布日期 1994.04.08
申请号 JP19920243840 申请日期 1992.09.14
申请人 FUJI ELECTRIC CO LTD 发明人 KOBAYASHI TOSHIYUKI
分类号 G01R31/26;G01R31/28;H01L23/32;(IPC1-7):G01R31/26 主分类号 G01R31/26
代理机构 代理人
主权项
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