发明名称 非接触位置检测设备
摘要 非接触型位置检测设备,包括带有光发射部分和光接收部分的激光单元,用于将激光照射到被测对象的检测点并接收由该检测点反射的激光,以判明至该检测点的距离。一条能使激光单元至少在直角坐标系的一条轴线方向上移动的臂。坐标检测机构,用于检测此臂的坐标。当该检测点和激光单元间的位置关系达到预定关系时,依此臂的的坐标判定该检测点的坐标。激光单元含类似探针的指示件,用以指示由光发射部分发出的激光光轴延长线和由光接收部分接收的激光光轴延长线间的交点。
申请公布号 CN1078550A 申请公布日期 1993.11.17
申请号 CN93102981.3 申请日期 1993.03.24
申请人 本田技研工业株式会社 发明人 高木清;栗原敏雄;桑畑正市;大森和夫;遠山敦实;大庭威
分类号 G01B11/02 主分类号 G01B11/02
代理机构 中国专利代理(香港)有限公司 代理人 王岳;马铁良
主权项 1、一种非接触型位置检测设备,其特征在于包括:带有光发射部分和光接收部分的激光单元,用于将激光照射到被测对象的检测点并接收由该检测点反射的激光,以判明至该检测点的距离;一条能使上述激光单元至少在直角坐标系的一条轴线方向上移动的臂,以及用于检测上述臂的坐标的坐标检测机构,其中当该检测点和上述激光单元间的位置关系达到予定关系时,该检测点的坐标根据上述臂的坐标判定;上述激光单元包括类似探针的指示装置,当该检测点和上述激光单元达到予定的位置关系时,指示装置用于指示由上述激光发射部分射出的激光光轴延长线和由上述光接收部分接收的激光光轴延长线之间的交点。
地址 日本东京都