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发明名称 IC-TESTEINRICHTUNG.
摘要
申请公布号 DE3584319(D1) 申请公布日期 1991.11.14
申请号 DE19853584319 申请日期 1985.06.27
申请人 ADVANTEST CORP., TOKIO/TOKYO, JP 发明人 SATO, HIROSHI;KOBAYASHI, YOSHIHITO, NERIMA-KU TOKYO, JP
分类号 B07C5/344;G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28 主分类号 B07C5/344
代理机构 代理人
主权项
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