发明名称 METHOD OF MEASURING THICKNESS OF LAYER ON SUBSTRATE
摘要
申请公布号 SU1682774(A1) 申请公布日期 1991.10.07
申请号 SU19894747112 申请日期 1989.07.13
申请人 MGU IM.M.V.LOMONOSOVA 发明人 KRUTKOVA SVETLANA A,SU;KOSTIENKO ANATOLIJ I,SU;AFONIN DMITRIJ G,SU;GAPOCHKA MIKHAIL G,SU;ALEKSEEV YURIJ K,SU
分类号 G01B15/00 主分类号 G01B15/00
代理机构 代理人
主权项
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