发明名称 LOW-ANGLE X-RAY DIFRACTOMETER
摘要
申请公布号 SU1582097(A1) 申请公布日期 1990.07.30
申请号 SU19884403092 申请日期 1988.04.04
申请人 SP K BYURO RENTGENOVSKOGO KRISTALLOOPTICHESKOGO PRIBOROSTROENIYA S EX PROIZV I KRISTALLOGRAFII IM.A.V.SHUBNIKOVA;INST KRISTALLOGRAFII IM.A.V.SHUBNIKOVA 发明人 DEMBO ALEKSANDR T,SU;FEJGIN LEV A,SU;MOGILEVSKIJ LEONID YU,SU;SHILIN YURIJ N,SU;BONDARENKO KONSTANTIN P,SU
分类号 G01N23/201 主分类号 G01N23/201
代理机构 代理人
主权项
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