发明名称 | 感应耦合等离子体质量分析仪 | ||
摘要 | 本发明的感应耦合等离子体分析仪预先使静电屏蔽装置保持于接地电位,等离子体由于这种静电屏蔽,与感应线圈产生的电场屏蔽隔离,从而保持与静电屏蔽装置几乎相同的接地电位。因此所产生的离子的电压变化得以抑制,同时由等离子体取出的离子的能量也较低,且其能量范围也小,从而使质量分析仪的分辨率得到了改善。另外,在小孔间产生的收缩放电也受到抑制,从而防止了紫外线噪声的产生。 | ||
申请公布号 | CN1007852B | 申请公布日期 | 1990.05.02 |
申请号 | CN87104633.4 | 申请日期 | 1987.07.06 |
申请人 | 株式会社岛津制作所 | 发明人 | 御石浩三 |
分类号 | H01J49/10 | 主分类号 | H01J49/10 |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利代理部 | 代理人 | 李强 |
主权项 | 感应耦合等离子体质量分析仪,其特征在于在产生高频磁场的感应线圈和导入气体溶胶的等离子体吹管之间,设有一用于屏蔽由感应线圈产生的电场的静电屏蔽装置。 | ||
地址 | 日本东京 |