发明名称 MEASURING INSTRUMENT BASED ON X-RAY DIFFRACTION FOR MEASURING STRESSES.
摘要 Procédé basé sur la diffraction des rayons X pour mesurer la contrainte de métaux, en particulier d'aciers austénitiques. Dans le procédé, la surface de détection (10) est inclinée autour d'un axe (A-A) se trouvant sur la surface de l'échnatillon (20) soumis à l'examen qui est essentiellement perpendiculaire à la direction des contraintes (sigmaxx) examinées. Grâce à la surface de détection (10), les diamètres (2Sax) de ce que l'on appelle des anneaux Debye dans la direction de la surface examinée sont enregistrés à deux ou plusieurs angles d'inclinaison (psi). La surface de détection (10) possède une forme arquée, comme montré dans la direction (B-B) à angles droits par rapport audit axe d'inclinaison (A-A) et l'on utilise une telle surface de détection arquée (10) allongée dans la direction dudit axe d'inclinaison (A-A) et suffisamment étroite dans la direction opposée pour permettre un angle d'inclinaison (psi) de la surface de détection (10) suffisamment grand pour l'exécution du procédé. On utilise une surface de détection (10) grâce à laquelle les rayons X réfléchis par l'échantillon sont convertis en signaux photo; on détermine sur la base desdits signaux photo les contraintes à mesurer. Est en outre décrit un instrument de mesure où la surface de détection (10) est située symétriquement des deux côtés dudit collimateur et où la surface de détection (10) est dotée de parties (10a, 10b; 41) grâce auxquelles les rayons X tombant sur la surface de détection sont convertis en signaux photo, le dispositif comportant en outre une ou plusieurs unités permettant la détermination des contraintes à mesurer sur la base du signal photo.
申请公布号 EP0157841(A1) 申请公布日期 1985.10.16
申请号 EP19840903637 申请日期 1984.09.21
申请人 INSINOORITOIMISTO MEXPERT OY 发明人 KORHONEN, MATTI;LINDROOS, VEIKKO
分类号 G01L1/00;G01L1/25;G01N23/207;(IPC1-7):G01B15/06;G01N23/20 主分类号 G01L1/00
代理机构 代理人
主权项
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