Device for optically detecting local inhomogeneities in the structure of tested objects.

摘要

Bei einer Anordnung zur optischen Erfassung räumlicher Unebenheiten ist die Oberfläche (4) des zu untersuchenden reflektierenden bzw. durchleuchtbaren Objekts mit Lichtstrahlen (2) unter einem vorgegebenen Winkel beleuchtet. Die vom Objekt reflektierten bzw. durchgelassenen Lichtstrahlen (2) werden von einem Retroreflektor (5) und wiederum von der Oberfläche (4) bzw. durch sie hindurch in das Objektiv (9) einer Videokamera (6) reflektiert. Aufgrund der starken Winkelabhängigkeit der Intensität der Reflexion am Retroreflektor (5) ergeben sich starke Änderungen der Lichtstrahlauffächerung in der Kamera (6) bei Unebenheiten am Objekt, wodurch diese leicht detektiert werden können. Die Erfindung wird angewandt bei Prüfeinrichtungen für Oberflächen in der Metall- oder Kunststoffbearbeitung.