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发明名称 METHOD OF FAULTY UNIT DEFECT DETECTION EQUIPPED WITH LOW OR MEAN INTEGRATION DENSITY INTEGRATED TTL-CIRCUITS BY MEANS OF IMPEDANCE MEASURING PROBE
摘要
申请公布号 CS235724(B1) 申请公布日期 1985.05.15
申请号 CS19820000746 申请日期 1982.02.03
申请人 SEDY,VACLAV,CS 发明人 SEDY,VACLAV,CS
分类号 G01R17/00;G01R27/00;G01R31/28;(IPC1-7):G01R17/00 主分类号 G01R17/00
代理机构 代理人
主权项
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