| 主权项 |
1.一种涡流式探测器,供以在轴状对称结构下测试不均称瑕疵者,其包含:至少两并列线圈,置于第一平面上,且缠绕以致当该线圈被加以电能时,其能产生相反方向之电磁场;且至少两并列线圈,置于第二平面上,且缠绕以致当该线圈被加以电能时,其能产生相反方向之电磁场,该第二平面系轴向隔离于且平行于该第一平面,且该第二平面之并列线圈,相对于第一平面之并列线圈,被移转一角度。2.依据请求专利部份第1项所述之探测器,其中之该移转角度系为90者。3.依据请求专利部份第1项所述之探测器,其中,仅两线圈供于第一平面,且仅两线圈供于第二平面,各线圈均具D字形状,并以并列形式正相反并置(对径相持)于各平面上者。4.依据请求专利部份第1项所述之探测器,其中在第一平面及第二平面之各该D字形线圈具有一铅直边,该铅直边并邻于另一并列的线圈之铅直边,且在第一平面之线圈及第二平面之线圈之间的该移转角度为90。5.依据请求专利部份第4项之探测器包括一圆筒框,用以支撑在第一和第二平面之该线圈,该框系由非磁性材质制成,以及一连接子,接于该框之一端,用以移动该框从第一平面至第二平面间隔之平行方向运动。 |
