| 摘要 |
Une structure assure une protection de dispositifs à semiconducteurs (32) contre des radiations et élimine de manière spécifique des erreurs passagères dans des mémoires à semiconducteurs (44) provoquéés par des radiations de particules alpha. La protection est assurée par un écran métallique (28) contre les radiations formé sur la mémoire matricielle à semiconducteur mais isolé de celle-ci (38). L'écran contre les radiations (28) est formé sur les dispositifs semiconducteurs (32) alors qu'ils se trouvent encore sous une forme de tranche (30) mais après avoir achevé la fabrication du dispositif normal. |
