首页
产品
黄页
商标
征信
会员服务
注册
登录
全部
|
企业名
|
法人/股东/高管
|
品牌/产品
|
地址
|
经营范围
发明名称
基板检查装置及使用于基板检查装置之灯元件
摘要
本发明系一种提高装置内之清净度之基板检查装置,以容易更换灯光源为目的,且基板检查装置构成为可在巨观照明装置进行基板之外观检查。巨观照明装置在高清净部内于微观检查部上方具有光源装置。光源装置可由前壁门交换内部之灯。由于光源装置配置于清净度相对于处理基板之领域较低之第一领域,因此即使进行光源装置之灯更换,处理基板之领域的清净度也不会降低。
申请公布号
TW200814220
申请公布日期
2008.03.16
申请号
TW096127539
申请日期
2007.07.27
申请人
奥林巴斯股份有限公司
发明人
木户浩章
分类号
H01L21/66(2006.01);G01N21/84(2006.01)
主分类号
H01L21/66(2006.01)
代理机构
代理人
恽轶群;陈文郎
主权项
地址
日本
您可能感兴趣的专利
四级带线腔体定向耦合器
一种套管固定式三角型单晶硅太阳能板锁架
一种身份验证的方法及装置
一种路由访问方法及终端
一种基于自抗扰和锁相环技术的永磁同步电机系统无传感器速度控制方法
一种半导体器件及其制造方法、电子装置
一种防雷击配电柜
半导体器件的形成方法
一种保护器对应工频电源线路寻线方法及其装置
一种FlexRay总线节点匹配电阻的优化方法及装置
一种管母线固定金具
一种电子设备扬声器的安装结构及电子设备
一种充电桩
一种磁场调制式聚磁双转子电机
一种业务纠错方法和装置
一种双极化天线阵子
一种N,S双掺杂碳纳米管包覆Fe<sub>x</sub>C催化剂、制备方法及其应用
一种减震散热的配电箱
封装结构及其制造方法
小能带隙III-V族MOSFET器件的非对称型源漏极结构