发明名称 |
检测连续行进的材料卷带中的孔的部件 |
摘要 |
一种检查连续材料卷带(B)中的孔的部件。该发明部件为包括一个垂直结构(100)的类型,该垂直结构设置在经由一个水平缝(110)的材料带的路径上,该水平缝把该结构划分成二个部分即上机架(110a)和下机架(110b)。每个所述机架通过相对着的打开的窗口在上述缝(110)上开放。上机架(110a)设计成支持在其下前进的带的方向上发射光源的第一光学子组件(200),下机架(110b)设计成支持接收来自第一光学子组件(200)的光的第二光学子组件(300)。其中,光发射子组件(200)包括激光辐射即受激发射,光接收子组件(300)包括对激光辐发出的低光通量敏感的光电二极管(310a和310b)。本发明可用于检查高速连续前进的钢板上的孔。 |
申请公布号 |
CN100449308C |
申请公布日期 |
2009.01.07 |
申请号 |
CN200480006420.5 |
申请日期 |
2004.03.19 |
申请人 |
ARCK传感器公司 |
发明人 |
伯努瓦·穆拉斯;帕斯卡·热尔;马克·布鲁昂 |
分类号 |
G01N21/894(2006.01);G01N21/89(2006.01);B21C51/00(2006.01) |
主分类号 |
G01N21/894(2006.01) |
代理机构 |
中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 |
代理人 |
王萍 |
主权项 |
1.一种检测连续材料卷带(B)中的孔的、以垂直机架(100)为形式的设备,所述机架设置在经由水平槽缝(110)的材料带的路径中,所述槽缝把所述机架(100)界定为通过彼此相对的打开的窗口各在所述槽缝(110)上开放的上机体(100a)和下机体(100b),上机体(100a)支持用来在于其下面通过的所述带的方向上发射光源的第一光学子组件(200),下机体(100b)支持用来接收由第一光学子组件(200)发射的并能滤过在其上方通过的材料带中的孔的所述光的第二光学子组件(300),其中,上述第一光学子组件(200)由所谓的激光辐射即受激辐射发射构成,并且上述第二光学子组件(300)由对激光辐射所发射的低光通量敏感的光电二极管(310a和310b)构成,其中第一光学子组件(200)由二排激光二极管(210a,210b)构成,并且其形状为条形,所述激光二极管彼此平行、位于所述槽缝(110)和要检查的材料带的上方并且沿着所述槽缝(110)彼此均匀偏离,从而其中的一排激光二极管(210a,210b)的光束重叠另一排激光二极管(210b,210a)的光束。 |
地址 |
法国圣阿格尼 |