| 发明名称 |
X-RAY DIFFRACTOMETER WITH A HIGH MOMENTARY RESOLUTION |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP0015475(B1) |
申请公布日期 |
1982.06.09 |
| 申请号 |
EP19800100931 |
申请日期 |
1980.02.25 |
| 申请人 |
SIEMENS AKTIENGESELLSCHAFT BERLIN UND MUNCHEN |
发明人 |
GOBEL, HERBERT, DR. |
| 分类号 |
G01N23/20;G01N23/207;(IPC1-7):G01N23/20 |
主分类号 |
G01N23/20 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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