| 发明名称 |
(B1) ;NETWORK WITH AUTOMATIC CALIBRATION FOR MEASUREMENT OF CAPACITY-VOLTAGE CHARACTERISTICS OF SEMICONDUCTOR STRUCTURES |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
PL227432(A1) |
申请公布日期 |
1982.04.26 |
| 申请号 |
PL19800227432 |
申请日期 |
1980.10.21 |
| 申请人 |
PRZEMYSLOWY INST ELEKTRONIKI |
发明人 |
MACHALICA PIOTR;POREBSKI STANISLAW;OLESZKIEWICZ STANISLAW;MOLENDA RADOSLAW;MOCNY WLODZIMIERZ |
| 分类号 |
G01R;G01R13/00;G01R27/26;G01R31/26;(IPC1-7):G01R/ |
主分类号 |
G01R |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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