发明名称 | 聚合物绝缘子的非破坏检查方法及其检查设备 | ||
摘要 | 被公开一个检查聚合物绝缘子封装缺陷的非破坏检查方法,该聚合物绝缘子具有一个FRP芯子,一层套在FRP芯子上的外皮部分,和至少一个金属构件封装在FRP芯子的至少一端,该非破坏检查方法包含以下步骤:测量当金属构件用一个夹紧模具往FRP芯子封装时产生的声发射信号;和根据过程中的声发射信号判定是否产生封装缺陷。还有,被公开的一个进行上述非破坏检查的设备。 | ||
申请公布号 | CN1168976A | 申请公布日期 | 1997.12.31 |
申请号 | CN97109951.0 | 申请日期 | 1997.03.28 |
申请人 | 日本碍子株式会社 | 发明人 | 大川恭史;中村逸志;铃木富雄;堀正洋 |
分类号 | G01N33/44 | 主分类号 | G01N33/44 |
代理机构 | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 | 代理人 | 陆立英 |
主权项 | 1.一个测量聚合物绝缘子封装缺陷的非破坏检查方法,该聚合物绝缘子具有一个FRP芯子,一层套在上述FRP芯子上的外皮部份,和至少一个金属构件封装在上述FRP芯子的至少一端,该非破坏检查方法包含以下步骤:测量当上述金属构件用一个压缩模具往上述FRP芯子封装时产生的声发射信号;和根据上述过程中的声发射信号判定是否产生上述的封装缺陷。 | ||
地址 | 日本爱知县 |