发明名称 聚合物绝缘子的非破坏检查方法及其检查设备
摘要 被公开一个检查聚合物绝缘子封装缺陷的非破坏检查方法,该聚合物绝缘子具有一个FRP芯子,一层套在FRP芯子上的外皮部分,和至少一个金属构件封装在FRP芯子的至少一端,该非破坏检查方法包含以下步骤:测量当金属构件用一个夹紧模具往FRP芯子封装时产生的声发射信号;和根据过程中的声发射信号判定是否产生封装缺陷。还有,被公开的一个进行上述非破坏检查的设备。
申请公布号 CN1168976A 申请公布日期 1997.12.31
申请号 CN97109951.0 申请日期 1997.03.28
申请人 日本碍子株式会社 发明人 大川恭史;中村逸志;铃木富雄;堀正洋
分类号 G01N33/44 主分类号 G01N33/44
代理机构 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人 陆立英
主权项 1.一个测量聚合物绝缘子封装缺陷的非破坏检查方法,该聚合物绝缘子具有一个FRP芯子,一层套在上述FRP芯子上的外皮部份,和至少一个金属构件封装在上述FRP芯子的至少一端,该非破坏检查方法包含以下步骤:测量当上述金属构件用一个压缩模具往上述FRP芯子封装时产生的声发射信号;和根据上述过程中的声发射信号判定是否产生上述的封装缺陷。
地址 日本爱知县