发明名称 积体电路的制造方法
摘要 一种积体电路的制造方法,用以解决该积体电路内元件区与周边电路区之间平坦化的问题,包括下列步骤:首先提供一矽基底;接着蚀刻该矽基底之该元件区,使该元件区和该周边电路区有一高低落差;以及最后完成该积体电路。本发明以简单的步骤,轻易克服元件区和周边电路区之高低落差问题,达到全面性平坦化的目的。
申请公布号 TW303486 申请公布日期 1997.04.21
申请号 TW085104979 申请日期 1996.04.26
申请人 世界先进积体电路股份有限公司 发明人 曾国书;詹鹏志
分类号 H01L21/302 主分类号 H01L21/302
代理机构 代理人 詹铭文 台北巿罗斯福路二段一○○号七楼之一
主权项 1. 一种积体电路的制造方法,用以解决该积体电路内元件区与周边电路区之间平坦化的问题,该制造方法包括下列步骤:提供一矽基底;蚀刻该矽基底之该元件区,使该元件区和该周边电路区预先有一高低落差;以及完成该积体电路。2. 如申请专利范围第1项所述之制造方法,其中蚀刻该元件区系以湿蚀刻的方式进行。3. 如申请专利范围第2项所述之制造方法,其中以湿蚀刻方式来蚀刻该元件区系利用HNO@ss3.HF以及CH@ss3COOH的混合液。4. 如申请专利范围第1项所述之制造方法,其中该高低落差之厚度约为0.5(到2(之间。图示简单说明:第1A至1C图是依照本发明一较佳实施例的一种积体电路部
地址 新竹科学工业园区新竹县园区三路一二三号