| 发明名称 |
METHOD FOR DETECTING RESISTIVE-OPEN DEFECTS IN SEMICONDUCTOR MEMORIES |
| 摘要 |
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| 申请公布号 |
EP1738375(A1) |
申请公布日期 |
2007.01.03 |
| 申请号 |
EP20050709081 |
申请日期 |
2005.03.23 |
| 申请人 |
KONINKLIJKE PHILIPS ELECTRONICS N.V. |
发明人 |
AZIMANE, MOHAMED |
| 分类号 |
G11C29/00;G11C29/02;G11C29/50 |
主分类号 |
G11C29/00 |
| 代理机构 |
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代理人 |
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| 主权项 |
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| 地址 |
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