发明名称 |
Halbleitervorrichtung und Herstellungsverfahren dafür |
摘要 |
CMOS-Tansistoren, die eine Anforderung zur Größenverringerung und eine Anforderung zur Zuverlässigkeit erfüllen, und ein Herstellungsverfahren dafür werden vorgesehen. Ein PMOS-Transistor mit vergrabenem Kanal ist nur in einem CMOS-Transistor (100B) vorgesehen, der für hohe Spannung ausgelegt ist. NMOS-Transistoren mit Oberflächenkanal sind in einem Niederspannungs-NMOS-Bereich (LNR) und einem Hochspannungs-NMOS-Bereich (HNR) gebildet. Ein PMOS-Transistor mit einem Oberflächenkanal ist in einem Niederspannungs-PMOS-Bereich (LPR) gebildet.
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申请公布号 |
DE10214105(A1) |
申请公布日期 |
2002.11.14 |
申请号 |
DE20021014105 |
申请日期 |
2002.03.28 |
申请人 |
MITSUBISHI DENKI K.K., TOKIO/TOKYO |
发明人 |
SAYAMA, HIROKAZU;NISHIDA, YUKIO;OHTA, KAZUNOBU;ODA, HIDEKAZU |
分类号 |
H01L27/092;H01L21/8234;H01L21/8238;H01L27/088;(IPC1-7):H01L27/092;H01L21/823 |
主分类号 |
H01L27/092 |
代理机构 |
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代理人 |
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主权项 |
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地址 |
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