发明名称 Halbleitervorrichtung und Herstellungsverfahren dafür
摘要 CMOS-Tansistoren, die eine Anforderung zur Größenverringerung und eine Anforderung zur Zuverlässigkeit erfüllen, und ein Herstellungsverfahren dafür werden vorgesehen. Ein PMOS-Transistor mit vergrabenem Kanal ist nur in einem CMOS-Transistor (100B) vorgesehen, der für hohe Spannung ausgelegt ist. NMOS-Transistoren mit Oberflächenkanal sind in einem Niederspannungs-NMOS-Bereich (LNR) und einem Hochspannungs-NMOS-Bereich (HNR) gebildet. Ein PMOS-Transistor mit einem Oberflächenkanal ist in einem Niederspannungs-PMOS-Bereich (LPR) gebildet.
申请公布号 DE10214105(A1) 申请公布日期 2002.11.14
申请号 DE20021014105 申请日期 2002.03.28
申请人 MITSUBISHI DENKI K.K., TOKIO/TOKYO 发明人 SAYAMA, HIROKAZU;NISHIDA, YUKIO;OHTA, KAZUNOBU;ODA, HIDEKAZU
分类号 H01L27/092;H01L21/8234;H01L21/8238;H01L27/088;(IPC1-7):H01L27/092;H01L21/823 主分类号 H01L27/092
代理机构 代理人
主权项
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