发明名称 SEMICONDUCTOR INTEGRATED CIRCUIT AND CHIP SCREENING METHOD THEREWITH
摘要
申请公布号 KR960005352(B1) 申请公布日期 1996.04.24
申请号 KR19920015734 申请日期 1992.08.29
申请人 TOSHIBA K.K.;TOSHIBA MICRO ELECTRONICS K.K. 发明人 GENJI, NUMATA;MASAKI, OGIHARA
分类号 G11C11/406;G11C11/401;G11C11/407;G11C29/00;G11C29/56;H01L27/10;(IPC1-7):G11C11/401 主分类号 G11C11/406
代理机构 代理人
主权项
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