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经营范围
发明名称
TEST CIRCUIT
摘要
申请公布号
JPH1130650(A)
申请公布日期
1999.02.02
申请号
JP19970187081
申请日期
1997.07.14
申请人
NEC CORP
发明人
YOSHIDA MAKOTO
分类号
G01R31/28;(IPC1-7):G01R31/28
主分类号
G01R31/28
代理机构
代理人
主权项
地址
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