| 摘要 |
高温負荷試験における絶縁抵抗の経時変化が小さく、絶縁性劣化耐性に優れた信頼性の高い積層セラミックコンデンサおよびその製造方法を提供する。複数の結晶粒子を備える誘電体セラミックを有し、複数の誘電体層１１と、誘電体層間の複数の界面に形成された複数の内部電極１２とを有する積層体１０と、外部電極１３ａ，１３ｂとを備える積層セラミックコンデンサにおいて、積層体が、ＢａおよびＴｉを含むペロブスカイト型化合物と、Ｌａと、Ｍｇと、Ｍｎと、Ａｌとを含み、Ｔｉの含有量に対するＬａ、Ｍｇ、Ｍｎ、Ａｌの含有量の割合が、Ｔｉを１００モル部としたときに、Ｌａ：０．２〜１．２モル部、Ｍｇ：０．１モル部以下、Ｍｎ：１．０〜３．０モル部、Ａｌ：０．５〜２．５モル部の範囲にあり、かつ、誘電体層に含まれる結晶粒子の、誘電体層１層あたりの積層方向の平均個数が１個以上３個以下という要件を満たすようにする。 |
