发明名称 METHOD AND DEVICE FOR THE STRUCTURE ANALYSIS AND/OR FOR DETECTING THE POSITION OF LAYERED OBJECTS
摘要 <p>Bei der Erfindung handelt es sich um ein Verfahren und eine Vorrichtung zur Analyse von Oberflächenstrukturen und oberflächennahen Strukturen von Objekten und/oder zur Lageerkennung von Objekten mittels Ultraschallwellen mit einem Ultraschallsender und Ultraschallempfänger sowie einer als Auflagefläche für das Objekt dienenden Platte. Die der Erfindung zugrundeliegende Aufgabe besteht in dem Vorschlag eines Verfahrens sowie einer Vorrichtung, die einen gedrängten Wellenverlauf zulassen und eine flache und eventuell auch eine kompakte und kleine Ausführung ermöglicht. Gemäß dem erfindungsgemäßen Verfahren werden die vom Objekt reflektierten und/oder rückgestreuten Wellen entlang der Platte geführt und Wandlern zur Analyse zugeführt. Die zur Durchführung des Verfahrens geeignete Vorrichtung besteht aus einer zur Führung von ein- oder zweidimensionalen Wellen geeigneten Platte, der seitlich Empfänger oder Empfänger und Sender zugeordnet sind.</p>
申请公布号 WO1997008990(A1) 申请公布日期 1997.03.13
申请号 EP1996003916 申请日期 1996.09.06
申请人 发明人
分类号 主分类号
代理机构 代理人
主权项
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