| 摘要 |
Sposób oceny jednorodności struktury tkanin, zwłaszcza tkanin przeznaczonych na filtry i szkielety kompozytowe, charakteryzuje się tym, że tkaninę przygotowuje się do oceny w drodze klimatyzacji. W dalszej kolejności, po uruchomieniu programu komputerowego, przeprowadza się kalibrację układu pomiarowego i po ustaleniu parametrów akwizycji obrazu umieszcza się badaną tkaninę na blacie stolika pomiarowego wykonanym ze zmatowionego szkła i zabezpiecza przed przesuwaniem się i zmianą napięć w prostopadłych układach nitek osnowy i wątku. Za pomocą kamery rejestruje się wzdłuż przekątnej od lewego dolnego narożnika do prawego górnego tkaniny kilka grup obrazów, z których każda zawiera kilka obrazów w obszarze prostokątnego fragmentu tkaniny i po zarejestrowaniu obrazów w programie komputera i poprawieniu ich jakości, dokonuje się analizy cyfrowej obrazów metodą segmentacji, po czym po wykonaniu kolejnych przekształceń obrazów do postaci umożliwiającej ich analizę punktową, przeprowadza się analizę ilościową elementów strukturalnych na kolejnych obrazach cyfrowych tkaniny za pomocą modułu wyznaczania podziałek układów nitek, modułu wyznaczania prześwitów międzynitkowych, modułu wyznaczania raportu splotu, przy czym podziałki osnowy i wątku wyznacza się w postaci wykresów profili osnowy i wątku na podstawie wartości poziomów jasności pikseli na określonych liniach poziomych i pionowych, za pomocą transformaty Fouriera, prześwity wyznacza się metodą "analizy skupień", natomiast raport splotu wyznacza się za pomocą współczynników korelacji i autokorelacji po określeniu splotowego modułu strukturalnego tkaniny i w końcu wyznacza się, w drodze sortowania poszczególnych parametrów strukturalnych, parametry, jak jednorodność pola V_POLE, kształt pola V_KSZT, parametry położenia elementu splotu względem uśrednionej siatki V_ODDW, V_RIDW, jednorodność podziałki osnowy V_POSN, jednorodność podziałki wątku V_PWAT i dokonuje oceny jednorodności struktury tkaniny: wewnątrzraportowej VW i międzyraportowej VM z zależności: VW = 0,2 • VW_POLE + 0,2 • VW_KSZT + 0,2 • VW_POSN + 0,2 • VW_PWAT + 0,1 • VW_ODDW + 0,1 • VW_RIDW VM = 0,2 • VM_POLE + 0,2 • VM_KSZT + 0,2 • VM_POSN + 0,2 • VM_PWAT + 0,1 • VM_ODDW + 0,1 • VM_RIDW. |
