用于测量在介质中的颗粒的传感器和方法

摘要

本发明涉及用于测量在受污染的介质中的颗粒的传感器，其带有透光的测量单元(115)、光学探测器和磁探测器，用于引导和测量介质的毛细管(C)穿过测量单元(115)，其中，测量单元(115)是柱状的，毛细管(C)在测量单元(115)中同轴地伸延，并且在测量单元(115)的中部中布置有控制室(K)，带有光源(110)和至少一个光学探测器(111)的光学透镜系统聚焦到控制室(K)上，并且在测量单元(115)的杆部上用于产生和探测同轴的交变磁场的差动线圈(116)形成磁探测器，其如此操控使得抵消在控制室(K)中的交变磁场。此外，说明了一种用于评估传感器(1)的信号的方法以及传感器的用途。

主权项

一种用于测量在受到污染的介质中的颗粒的传感器，其带有：透光的测量单元(115)、光学探测器和磁探测器，用于引导和测量介质的毛细管(C)穿过测量单元(115)，其特征在于，－所述测量单元(115)是柱状的，所述毛细管(C)在其中同轴地伸延，并且－控制室(K)布置在测量单元(115)的中部中，带有光源(110)和至少一个光学探测器(111)的光学透镜系统聚焦到控制室(K)上，－所述透镜系统的光轴(z)垂直于所述毛细管(C)取向，并且－在所述测量单元(115)的杆部上与所述毛细管同轴的、用于产生和探测同轴的交变磁场的两个差动线圈(116)形成磁探测器，其如此操控使得抵消在所述控制室(K)中的交变磁场。