发明名称 一种热红外高光谱成像仪盲元检测装置
摘要 本专利涉及一种热红外高光谱成像仪盲元检测装置,本专利装置由黑体控制器、标准黑体、热红外高光谱成像仪和计算机模块组成,标准黑体可以发射稳定的热红外辐射,将热红外高光谱成像仪对准黑体并充满视场,热红外高光谱成像仪接收热红外辐射,通过计算机模块控制热红外高光谱成像仪采集8‑12.5μm范围的数据,调节黑体控制体,改变标准黑体温度将黑体温度设置为N个(N≥30)不同的温度,待温度稳定后,如此往复,获取不同温度的N组热红外辐射数据,获取温升黑体热红外高光谱数据,生成盲元图像,完成盲元检测。基于该装置从光谱维角度实现热红外高光谱探测器盲元的高精度检测,对热红外高光谱成像仪定标和数据预处理具有重要的作用。
申请公布号 CN206146624U 申请公布日期 2017.05.03
申请号 CN201621121391.3 申请日期 2016.10.14
申请人 中国科学院上海技术物理研究所 发明人 张长兴;谢锋;刘成玉;邵红兰;刘智慧;杨贵
分类号 G01M11/00(2006.01)I 主分类号 G01M11/00(2006.01)I
代理机构 上海新天专利代理有限公司 31213 代理人 郭英
主权项 一种热红外高光谱成像仪盲元检测装置,所述的盲元检测装置包括黑体控制器(1)、标准黑体(2)、热红外高光谱成像仪(3)和计算机模块(4),其特征在于:所述的黑体控制器(1)与标准黑体(2)连接,计算机模块(4)与热红外高光谱成像仪(3)连接,热红外高光谱成像仪视场对准标准黑体;黑体控制器(1)设定标准黑体温度,标准黑体(2)发出稳定的热红外辐射,热红外光谱成像仪(3)接收热红外辐射,计算机模块(4)控制成像仪进行数据采集,获得8‑12.5μm热红外各个波段的热红外辐射数据,改变标准黑体(2)的温度,如此往复,获取不同温度下的8‑12.5μm热红外辐射数据,得到温升黑体热红外高光谱数据,生成盲元图像,完成盲元检测。
地址 200083 上海市虹口区玉田路500号