发明名称 |
Cu芯球 |
摘要 |
提供能够抑制软错误、降低连接不良的Cu芯球。在Cu球的表面形成的软钎料镀覆膜由Sn软钎料镀覆膜或以Sn作为主要成分的无铅软钎料合金形成,U的含量为5ppb以下,Th的含量为5ppb以下,该Cu球的纯度为99.9%以上且99.995%以下,Pb和/或Bi的含量的总量为1ppm以上,球形度为0.95以上,所得Cu芯球的α射线量为0.0200cph/cm<sup>2</sup>以下。 |
申请公布号 |
CN105392580B |
申请公布日期 |
2017.04.26 |
申请号 |
CN201380077610.5 |
申请日期 |
2013.06.19 |
申请人 |
千住金属工业株式会社 |
发明人 |
川崎浩由;桥本知彦;池田笃史;六本木贵弘;相马大辅;佐藤勇;川又勇司 |
分类号 |
B22F1/00(2006.01)I;B22F1/02(2006.01)I;B23K35/14(2006.01)I;B23K35/26(2006.01)I;C22C13/00(2006.01)I;H01L21/60(2006.01)I;H05K3/34(2006.01)I |
主分类号 |
B22F1/00(2006.01)I |
代理机构 |
北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 |
代理人 |
刘新宇;李茂家 |
主权项 |
一种Cu芯球,其特征在于,其具备Cu球和覆盖该Cu球的表面的软钎料镀覆膜,所述软钎料镀覆膜为Sn软钎料镀覆膜或由以Sn作为主要成分的无铅软钎料合金形成的软钎料镀覆膜,U的含量为5ppb以下,Th的含量为5ppb以下,该Cu球的纯度为99.9%以上且99.995%以下,Pb和/或Bi的含量的总量为1ppm以上,球形度为0.95以上,并且,Cu芯球的α射线量为0.0200cph/cm<sup>2</sup>以下。 |
地址 |
日本东京都 |